Linked Data Explorerhttp://worldcat.org/entity/work/id/233835770
Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen : Strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen
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- "Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen : Strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen"
- "Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH_1tn4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen"
- "Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen : strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen"